Roberto Gómez Fuentes

Grado: Doctor, Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica (INAOE), 2007

SNI:Candidato

Área de investigación: Diseño y prueba de circuitos integrados VLSI.
Desarrollo y prueba de algoritmos aplicados al test de circuitos integrados.
Estudio de los efectos de electromigración en vías, contactos y líneas de interconexión.

Publicaciones selectas:

• Villacorta, H.  Hawkins, C. ; Champac, V. ; Segura, J. ; Gomez, R.,Reliability analysis of small delay defects due to via narrowing in signal paths, IEEE Design and Test, Vol. 30, Issue 6, pp. 70-79, 2013.
• Champac, V. ; Hernandez, J.V. ; Barcelo, S. ; Gomez, R. ; Hawkins, C. ; Segura, J.,Testing of stuck-open faults in nanometer technologies, IEEE Design & Test of Computers, Vol. 29 , Issue 4, pp. 80 – 91, 2012.
• Gomez, R. ; Giron, A. ; Champac, V., Test of interconnection opens considering coupling signals,  20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Page(s): 247 – 255, 2005.

​e-mail: rgomez@cifus.uson.mx